| A Magyar Tudomány Ünnepe 2016 | "Oknyomozó tudomány" |
|---|---|
| Az esemény címe | Nagy-látószögű elektronoptika és szoftver alapú képalkotó energia analizátor fejlesztése |
| Az esemény műfaja | előadás |
| Tudományterület | Informatika, Műszaki tudományok, |
| Kezdés | 2016. november 17. 16.00 óra |
| Befejezés | 2016. november 17. 17.00 óra |
| Program | Dr. Tóth László adjunktus, PhD |
| Szervező intézmények | Informatikai Kar |
| Helyszínek | 4028 Debrecen, Kassai út 26. informatikai épület F01 terem |
| Régió | Észak-Alföld |
| Kapcsolattartó | Dr. Cserhátiné Vecsei Ildikó vecsei.ildiko@inf.unideb.hu, +36 52 512 900 / 75022 |
| Az esemény honlapja | www.inf.unideb.hu |
| Szinopszis, összefoglaló (legfeljebb 4000 karakter) | Az optikai leképező rendszerek feloldóképessége az alkalmazott hullámhosszal fordítva, míg a nyílásszöggel egyenesen arányos, mely utóbbi egyben a berendezés fényerejét is meghatározza. A hullámhossz csökkentése már a múlt század első felében lehetővé vált, például elektronhullámok alkalmazásával, de az elektronoptikai rendszerek nyílásszögének jelentős mértékű növelése, a szférikus aberráció jelensége miatt, még 80 évig megoldhatatlan feladatnak látszott. Az áttörést, a japán tudomány és ipar egyre nagyobb szög-, térbeli- és energia-feloldások iránti igénye hozta, ami 2004-ben létrehívott egy kiemelt K+F projektet, melynek keretében Daimon H., Matsuda H. és Tóth L. megvalósították a szférikus aberrációra korrigált (1pi sr) nagy-látószögű lencserendszer (WAAEL) prototípusát, amit azóta több új fejlesztésű berendezés (WAAEL alapú DELMA és Stereo-PEEM) és a részvételükkel számos különböző gyártónál fejlesztett kereskedelmi termék is követett. Ezen műszerek áttörést hoztak a korábbi (0.07pi) kis-látószögű berendezésekhez képest és egyedülálló módon teszik lehetővé az elektronszerkezeti vizsgálatokat. Mindemellett, a nagy látószög miatt erősebben jelentkező kromatikus aberráció korrigálása is szükségessé vált, melyhez Fazekas Á. és Tóth L. kifejlesztette a teljesen új koncepción alapuló úgynevezett szoftver alapú képalkotó energia analizátor (SBIEA) prototípusát, ami új utat nyit a monokromatikus diffrakciós-, holografikus-, és valós-képalkotás terén. |
Legutóbb frissítve:
2021. 07. 28. 11:21